SciAps賽普斯X-5，傳統的XRF手持式光譜儀 PiN技術通常不測量合金或其他材料中較輕的元素Mg，Si，Al，P和S，并且它以比當今最先進的漂移探測器技術低約10倍的速率（因此精度低3倍）獲取X射線數據。 但是，對于許多應用，這種技術可能是完全可以接受的。